Im Bereich der Oberflächenprüfung ermöglichen die Fortschritte der Technik nicht nur ständig höhere Prüfgeschwindigkeiten und immer kompaktere Bauweisen der Prüfsysteme, sondern auch die Erfassung zusätzlicher Oberflächeneigenschaften und die dreidimensionale Vermessung der Oberflächentopographie im Nanometerbereich. Darüber hinaus gelingt die schnelle Bewertung farbiger, gemusterter, transparenter oder stark reflektierender Oberflächen. Im Seminar werden dazu unterschiedliche Prüf- und Analysemethoden vorgestellt.

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